nanoscope
analysis是一款相当不错的分析工程模型的工具，该软件可以将光学图像AFM放到软件上执行数据研究，内置十九种分析方案，包括二维分析、三维分析、粒子分析、有图案的样本分析、电化学SPM分析，可以帮助用户在研究光学数据的时候提供更加清晰的数据分析方案;欢迎大家下载使用哦。
功能介绍：
分析功能
分析函数关系到分析在实时模式中捕获的图像的表面行为。这些命令称为图像处理或分析命令。这些命令包含用于分析、修改和存储收集到的数据的视图、选项和配置。分析可以是自动化的(也可以是自动程序)或者手工完成。一般来说，分析命令提供了量化样品表面特性的方法
二维图像
二维图像分析以二维的角度显示所选图像的颜色编码高度信息。二维图像分析是对纳米范围分析的默认分析，当图像最初被打开时，它总是在二维图像中呈现。
轴承的分析
轴承分析提供了一种绘制和分析样品表面高度分布的方法。轴承分析可应用于整个图像，或对图像的选定区域，使用橡胶带箱。此外，选择区域内的区域可以通过使用“停止带”来移除分析中的多余数据。
深度
为了分析特征的深度，你有众多的选择来测量不同高度的两个主要特征之间的高度差。深度分析主要是为自动比较两个相似的样本站点的特征深度而设计的(例如，在分析大量相同硅晶片的腐蚀深度时)。
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